多個波疊加(jia)(jia)時，每一波相位(wei)波加(jia)(jia)強的部分中相互(hu)匹(pi)配，其(qi)中，通過利(li)用(yong)破壞性在相位(wei)反(fan)轉的部分，波長（頻率）和(he)測量相位(wei)差(cha)的技術(shu)。利(li)用(yong)此原理的設備主要稱為(wei)干涉儀。
光學干涉儀是(shi)一(yi)種利用(yong)光(guang)的干涉現象(xiang)來(lai)測(ce)量(liang)(liang)長度(du)、厚(hou)度(du)、折射率等(deng)物理(li)(li)量(liang)(liang)的儀器。它的工作原理(li)(li)是(shi)利用(yong)光(guang)的波動性和干涉現象(xiang)，通過(guo)比(bi)較光(guang)程差來(lai)測(ce)量(liang)(liang)被測(ce)量(liang)(liang)體的長度(du)或厚(hou)度(du)等(deng)物理(li)(li)量(liang)(liang)。
光(guang)學干涉(she)儀的(de)基本組(zu)成部分(fen)包括光(guang)源(yuan)、分(fen)束(shu)(shu)器(qi)、反(fan)射(she)(she)鏡(jing)、光(guang)程差調節器(qi)和檢測器(qi)。在工作時，光(guang)源(yuan)發出的(de)光(guang)線經(jing)過(guo)分(fen)束(shu)(shu)器(qi)分(fen)成兩(liang)束(shu)(shu)光(guang)線，經(jing)反(fan)射(she)(she)鏡(jing)反(fan)射(she)(she)后再匯合。當兩(liang)束(shu)(shu)光(guang)線匯合后，由于光(guang)的(de)波動性，它(ta)們會產生干涉(she)現象，形成干涉(she)圖樣，通(tong)過(guo)觀察(cha)干涉(she)條紋的(de)形態和移動情(qing)況，可以計算出被測物體的(de)長度或厚度等物理量。
光學干涉儀的(de)應用非常廣泛，比如在(zai)工業生產中用于(yu)測(ce)(ce)量機械零(ling)件的(de)長度和厚(hou)度、在(zai)材(cai)料(liao)研究中用于(yu)測(ce)(ce)量材(cai)料(liao)的(de)折射率和厚(hou)度、在(zai)生物(wu)醫學中用于(yu)測(ce)(ce)量細胞和組織的(de)長度和厚(hou)度等等。
