M-Z光學干涉儀
- 產品型號(hao)：
- 更新時(shi)間：2023-03-14
- 產(chan)品介紹：M-Z光學干涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。
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產品介紹
M-Z光學干涉儀產品說明：
馬(ma)赫(he)-曾德干涉儀屬于一種等(deng)光程比較干涉。通(tong)過比較被測(ce)物和參考(kao)物的相位（表現為條紋(wen)的變(bian)化），從而實(shi)現被測(ce)物的物理量(liang)的測(ce)量(liang)。馬(ma)赫(he)-曾德干涉儀通(tong)常用(yong)于測(ce)量(liang)透明介質折射率的微小變(bian)化，可用(yong)于氣(qi)體(ti)、液體(ti)、透明固體(ti)、沖擊波及熱傳導等(deng)方面的研究。
M-Z光學干涉儀技術參數：
參數(shu) | 大值 | 小值 | 備注 |
視場(chang) | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖(tu)像分析(xi)軟件(jian) | 滿足干(gan)涉條紋背景濾(lv)波、二(er)值化、細化與修像、標記、采樣(yang)讀(du)(du)數(shu)、物理(li)參數(shu)計算讀(du)(du)取等功能(neng) | ||
成像傳感器 | 數碼單反相(xiang)機、高(gao)速(su)相(xiang)機、記錄干板 | ||
光源 | 532nm激光(guang)(guang)光(guang)(guang)源、632.8nm激光(guang)(guang)光(guang)(guang)源 | ||
其他 | 系統(tong)采用有效的減振方式(shi) | ||
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